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Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADWR D# V36:1790_07335372 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
SN74BCT8245ADW D# V36:1790_07335371 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments | 6 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADWRE4 |
Texas Instruments |
SCAN TEST DEVICE, SOIC-24, Logic Type:Scan Test Device, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Operating Temperature Min:0C, Operating Temperature Max:70C, MSL:MSL 1 - Unlimited , RoHS Compliant: Yes |
0 |
SN74BCT8245ADWR |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC |
0 |
SN74BCT8245ADWG4 |
Texas Instruments |
SCAN TEST DEVICE, SOIC-24, Logic Type:Scan Test Device, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Supply Voltage Min:1.2V, Supply Voltage Max:3.6V, Operating Temperature Min:0C, Operating Temperature Max:70C, Packaging:Each , RoHS Compliant: Yes |
0 |
SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN TEST DEVICE TXRX, 24SOIC |
0 |
SN74BCT8245ADWE4 |
Texas Instruments |
SCAN TEST DEVICE, SOIC-24, Logic Type:Scan Test Device, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Operating Temperature Min:0C, Operating Temperature Max:70C, Packaging:Each , RoHS Compliant: Yes |
0 |
SN74BCT8245ADWRG4 |
Texas Instruments |
SCAN TEST DEVICE, SOIC-24, Logic Type:Scan Test Device, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Operating Temperature Min:0C, Operating Temperature Max:70C, MSL:MSL 1 - Unlimited , RoHS Compliant: Yes |
0 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADW D# 2156-SN74BCT8245ADW-ND |
Rochester Electronics LLC |
SN74BCT8245A IEEE STD 1149.1 (JT |
12877 |
SN74BCT8245ADWR D# 296-51563-2-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC |
0 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADWR |
Maxim Integrated Products |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
33180 |
SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
522 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1037 |
SN74BCT8245ADWRE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
458 |
SN74BCT8245ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
940 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADWR D# 595-SN74BCT8245ADWR |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Bus Transceiver RoHS: Compliant
|
1922 |
SN74BCT8245ADW D# 595-SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic IEEE 1149.1 RoHS: Compliant
|
15 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADWG4 D# NS-SN74BCT8245ADWG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2835 |
SN74BCT8245ADWR D# NS-SN74BCT8245ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3284 |
SN74BCT8245ADWE4 D# NS-SN74BCT8245ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
6141 |
SN74BCT8245ADW D# NS-SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
6964 |
SN74BCT8245ADWRG4 D# NS-SN74BCT8245ADWRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
8674 |
SN74BCT8245ADWRE4 D# NS-SN74BCT8245ADWRE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
7584 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADWR |
Texas Instruments | 351 | |
SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments | 351 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADWR D# SN74BCT8245ADWR |
Texas Instruments |
Semiconductor |
960 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments |
SN74BCT8245A IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Bus Transceivers RoHS: Compliant
|
12877 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1460 |
SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
679 |
Nº de pieza | Fabricantes | Descripción | En existencias |
SN74BCT8245ADWR |
Texas Instruments |
IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Bus Transceivers |
7 |
El compromiso de Heisener con la calidad ha dado forma a nuestros procesos de abastecimiento, prueba, envío y cada paso intermedio. Esta base subyace en cada componente que vendemos.
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86-755-83210559-827
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